Preizkusite novo različico: COBISS+
 Vzajemna baza podatkov: COBIB.SI - Vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov (Štev. zapisov: 5.031.657)

Izbrani zapis trajna povezava

AvtorVrtačnik, Danilo
Križaj, Dejan, 1962-
Mali, Tadej
Casar, Božidar
Resnik, Drago
Aljančič, Uroš
Možek, Matej
Amon, Slavko
Naslov Influence of radiation on characteristics of FOXFET biased silicon microstrip detector / D. Vrtačnik ... [et al.]
Vrsta/vsebinatype of material prispevek na konferenci
Jezikangleški
Leto2000
Fizični opisStr. 117-122 : Graf. prikazi
OpombeBibliografija: str. 122
Abstract
Predmetne oznake (nekontrolirane)silicijevi trakasti detektorji / FOXNET / doze žarčenja / degradacija / silicon microstrip detectors / FOXNET / irridiation doses / degradation
COBISS.SI-ID1992788
Glej publikacijo TI=Proceedings.- Str. 117-122